SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求.pdf
文档页数：11文档大小：5.57MB文档格式：pdfICS31.020 L04 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11769—2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 General requirements for low-frequency noise parameters measurement method of electronic ponents and devices 2020-12-09发布 2021-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11769—2020 目次 前言… III 引言…… ….V 1范围 1 2规范性引用文件 3术语和定义… AND. 4测试条件及要求 3 4.1低频噪声测试的 条件 13 4.2低频噪声测试时被测电子元器件工作条件 5测试系统的构成及要 4 5.1测试系统的构 ..4 5.2测试系统的要求 TE 6测试程序 SJ ….4 5 6.1测试准备 5 6.2测试步 …5 6.3数据记录与处理 6 SINIW 40010 STANDARDSJ SJ/T11769—2020 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担这些专利的责任. 本标准由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口. 本标准起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学、 中国电子技术标准化研究院、苏州半导体总厂有限公司、深圳市量为科技有限公司、中国空间技术研究 院、中国电力科学研究院. 本标准主要起草人：罗宏伟、张伟、 胡 永涛、恩云飞、梁永红、黄平、顾惠萍、张 大宇、张蓬鹤. OFINDUSTRY MLSINIW ORMATION TECHNOL SJ STANDARDSI III ...
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