T/CSTM 003172023 光学晶体 卤化物晶体中微量元素的测定 电感耦合等离子体质谱法.pdf

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ICS71.040.50 CCS A43 CSTM 团体标准 T/CSTM00317—2023 光学晶体卤化物晶体中微量元素的测定电感耦 合等离子体质谱法 Optical crystals-Determination of trace elements in halide crystals-Inductively coupled plasma mass spectrometry 2023-01-13发布 2023-04-13实施 中关村材料试验技术联盟 发布 T/CSTM00317—2023 前言 本文件参照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》,GB/T 20001.4《标准编写规则第4部分:试验方法标准》的规定起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中国材料与试验标准化委员会光电材料及产品标准化领域委员会(CSTM/FC60)提出. 本文件由中国材料与试验标准化委员会光电材料及产品标准化领域委员会(CSTM/FC60)归口. I T/CSTM00317-2023 光学晶体卤化物晶体中微量元素的测定电感耦合等离子体质谱法 重要提示—一使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验.本文件并未指出可能的安全 问题.使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件. 1范围 本文件规定了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定卤化物光学晶体中微量元素的原理、干扰 和消除、试剂或材料、仪器和设备、样品、实验步骤、质量保证和质量控制等. 本文件适用于卤化物光学晶体(CsI/NaI)、原料以及类似的卤化物光学晶体材料中钙(Ca)、镁(Mg)、 铬(Cr)、铅(Pb)、铜(Cu)、钛(Ti)、铁(Fe)、镜(Y)、铕(Eu)、(Ce)、镧(La)、铊(TI) 等12种微量元素含量的方法.各元素的方法检出限以及推荐质荷比见附录A. 2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.其中,注日期的引用文件, 仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于本 文件. GB/T602化学试剂杂质测定用标准溶液的制备 GB/T33087仪器分析用高纯水规格及试验方法 GB/T39486化学试剂电感耦合等离子体质谱分析方法通则 3术语和定义 GB/T39486界定的以及下列术语和定义适用于本文件. 3.1 质谱干扰mass spectral interference 一个或多个原子离子与待测元素离子具有相近的质荷比而引起的干扰. 3.2 同量异位素干扰isobaric interference 元素间具有相近的质荷比,不能被质量分离器分辨时引起的质谱干扰. 3.3 多原子离子干扰polyatomic ion interference 由两个或两个以上的原子结合而成的复合粒子,与待测元素离子具有相近的质荷比所引起的干扰. 3.4 物理干扰physical interference 1 ...

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