GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法.pdf
文档页数：38文档大小：2.7MB文档格式：pdfICS33.180.20 M31 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法 Reliability test method for optoelectronic devices used in telemunications 2017-05-31发布 2017-12-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T33768-2017 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 3术语和定义 4一般要求 4.1试验类型1 4.2试验设备 1 4.3试验环境 2 4.4抽样方案 2 4.5试验报告 2 5详细要求3 5.1符合性试验 3 5.1.1光电特性3 5.1.2外形尺寸 4 5.1.3外部目检4 5.2机械完整性试验 5 5.2.1机械冲击 ....5 5.2.2变频振动6 5.2.3热冲击 .7 5.2.4光纤扭力5.2.5 光纤侧向拉力 9 5.2.6光纤拉力9 5.2.7 引脚牢固性 10 5.2.8连接器插拔耐久性 11 5.2.9受力传输 12 5.3环境试验13 5.3.1高温贮存 13 5.3.2 低温贮存 14 5.3.3温度循环 14 5.3.4恒定湿热 16 5.3.5抗潮湿循环 16 5.3.6高温寿命 18 5.4物理特性试验 19 5.4.1内部水汽含量 19 5.4.2密封性 20 5.4.3 ESD阈值 22 5.4.4ESD抗扰度24 I GB/T33768-2017 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本标准由工业和信息化部（通信）归口. 本标准起草单位：武汉烽火科技集团有限公司、中兴通讯股份有限公司、中国信息通信研究院、深圳 新飞通光电子技术有限公司. 本标准起草人：赵先明、宋梦洋、江毅、龚雪、罗勇、邓智芳、杨春、武成宾、赵文玉、陈悦. Ⅲ ...
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