HS/T 51-2016 硅铁中铝、硅、钙、铬、锰、铁、铜含量的测定.pdf
文档页数：8文档大小：490.75KB文档格式：pdf1cS77.100 H42 HS 中华人民共和国海关行业标准 HS/T51-2016 硅铁中铝、硅、钙、铬、锰、铁、铜含量 的测定X射线荧光能谱法 Determination of Al.Si Ca Cr Mn Fe.Cu content in Ferro-silicon Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometric method 2016-02-29发布 2016-03-01实施 中华人民共和国海关总署发布 HS/T51—2016 前言 本标准按照GB/T1.1-2009、HS/T1-2011和HS/T39-2013的编制规则起草. 本标准由中华人民共和国海关总署关税征管司提出. 本标准由中华人民共和国海关总署政策法规司归口. 本标准的起草单位：中华人民共和国天津海关. 本标准主要起草人：邱越、苏骏、李杨、魏鹏、史芸、张鹏、王岳、王秀禄、乔山虎. I HS/T51-2016 硅铁中铝、硅、钙、铬、锰、铁、铜含量的测定射线荧光能谱法 警告—一使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验.本标准并未指出可能的安全问 题.使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件. 1范围 本标准规定了射线荧光能谱法测定硅铁铝、硅、钙、铬、锰、铁、铜含量的仪器、试样制备、 分析步骤及分析结果处理. 本标准适用于税则号列7202.2项下的硅铁中铝(0.7~2.5%)、硅(47~76%)、钙(0.07~0.8%)、 铬(0.004~0.14%)、锰(0.02~0.28%)、铁(21~49%)、铜(0~0.15%)的定量分析. 2原理 样品在照射一定强度的射线后会激发X射线荧光，不同元素所激发出来的荧光能量不同，检测器 通过搜集不同能量范围的信号计数表征元素的含量.通过建立工作曲线，可以得出样品中元素的准确 含量. 3试剂与材料 3.1低压聚乙烯粉200目 4仪器和设备 4.1X射线荧光能谱仪：元素测量范围Na一U 配有Si(Li)探测器，浓度动态范围100%-ppm. 4.2压片机：压力20吨. 5分析步骤 5.1分析条件 将样品破碎、磨细至200目以下，用低压聚乙烯粉镶边垫底，20吨压力下10秒成型. 本标准推荐的分析条件如下： 元素 X光管管压 光管管流滤光片样品室环境 能量范围 测量时间 Al Si 6 KV 0.76mA 无滤片 真空 10 kev 100秒 Ca Cr Mn Fe Cu 18 KV 0.12mA A1滤片 空气 10 kev 100秒 表1采谱条件 元素 谱线 提取强度方法 感兴趣区 Al Ka Gross 1400-1500ev Si Ka Gross 1660-1820ev Ca Ka Gross 3560-3800ev Cr Ka Gross 5260-5580ev 1 ...
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