正式版 GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法.pdf
文档页数：14文档大小：1.68MB文档格式：pdfICS31.200 CCS L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of Holzer circuit 2023-08-06发布 2023-12-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T42838—2023 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口. 本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有 限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司. 本文件主要起草人：尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广. GB/T42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 1范围 本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法. 本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试. 2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.其中，注日期的引用文 件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于 本文件. GB/T17574一1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 3术语和定义 下列术语和定义适用于本文件. 3.1 工作点磁感应强度magnetic operate point Bop 在工作点上垂直穿过单位面积的磁力线的数量. 3.2 释放点磁感应强度magnetic release point BRP 在释放点上垂直穿过单位面积的磁力线的数量. 3.3 回差return difference Bu 在仪表全部测量范围内，被测量值上行和下行所得到的两条特性曲线之间的最大偏差. 3.4 输出上升时间output rise time tr 电路输出由低电平变为高电平所需的时间. 3.5 输出下降时间output fall time tr 电路输出由高电平变为低电平所需的时间. 1 ...
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