GB/T 43040-2023 半导体集成电路 ACDC变换器测试方法.pdf
文档页数：39文档大小：9.13MB文档格式：pdfICS31.200 CCS L55 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T43040—2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 Semiconductor integrated circuits-Test method of AC/DC converters 2023-09-07发布 2024-04-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T43040-2023 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 中 1 3术语和定义 4一般测试要求 3 4.1测试环境要求 3 4.2测试注意事项 3 4.3测试仪器和设备 4 5测试条件和测试程序 4 5.1输入电压范围(VNR) 4 5.2输入频率范围(fiNR) 5 5.3空负载输入电流(I IN NULL) 6 5.4满负载输入电流(I IN FULL) 7 5.5关断态输入电流(INsD)7 5.6输出电压精度(a) 8 5.7输出电压温度系数(ac) 9 5.8输出纹波电压(V.RIPPLe) 11 5.9电压调整率(Sv)12 5.10电流调整率(S1) 13 5.11 交叉调整率(Sc) 14 5.12 输出电压调整范围(VOR TRIM) 15 5.13效率(m) 5.14漏电流(ICASE) 18 5.15输入浪涌电流(I INRUSH) 19 5.16输出限制电流(I OPRO)20 5.17 启动输出过冲电压(Vo) 21 5.18 负载变化瞬态过冲电压(VoR) 22 5.19 负载变化瞬态响应时间(tRoR) 23 5.20 隔离阻抗(RSo)25 5.21 开关频率(fc) 26 5.22 启动延迟时间(tTR) 27 5.23 输出保持时间(tH)28 5.24 使能开启电压(Vo) 29 I GB/T43040—2023 5.25使能关断电压(VoFF) 30 5.26使能输入电流(IE) 31 5.27使能延迟时间(tE) 32 5.28 抗电强度(S) Ⅱ ...
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