QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大口测试方法.pdf
文档页数：7文档大小：1.27MB文档格式：pdf中华人民共和国第七机械工业下 指导性技术文件 半导体集成比较放大口的测试方法 QJ/z-32-77 一九七七年六月 于北京 中华人民共和国第七机诚工业下 指导注技术文件 QJ/么-32-7 半导体集成比较放大四测试方法 本文作为半导体集成比较放大口电参数测试的指导性技术文件. 一、总则 1、测试状态：除特殊规定外，本测试方法规定在常温20°±5℃， 湿度40~80%的状态下进行. 2、测试仪口及装置： (1)直流电源电压波动不得超过5%，输出波纹电压≤±10mV电源的阻抗测试时不应产生响. (2以测试仪口及表头、各类充、立流电表及测量仪国除特豫定外， 不得低于15级，其阻抗对测试的形响可忽略不计， ()测试装置的寄生参量（分布电容、电示等）不应对测试结果产 生明显形响. 3、本文为了减少条文，对于比放大四与运际放大同顶目的电 参数测试.其名词、术语、符号、测试方法以及有关的试要求，在此不 列举，参照丁258-一77半导体集成运放大口测试方法的有关下分. 二、名词术语符号 4、电压转换率： (1)符号：Sr (2)单位：V/s ()、定义：比较放大口在大仪号输入条件下.单位时问内，闭环放大 第七机械工业下发布 1978年8月15日 实滤 第七○八所提出 半导你集成电路测试标准制定组起草 共6页第2页 QJ/z-32-77 口输出电压的变化值. 5、选通电流： (1)符号：工s七 (2)单位：mA ()、定义：比较放大回处于高电平状态时，选通端流出的电流称为远 通电流. 6、输出高电平： (1)符号：VbH (2)、单位：v (3)定义：比较放六四同相翰入端加入二151v的电压时，输出 端的电压称为输出高电平、 7、翰出低电平： (1)、符号：Vo (2)单位：v (3).定义：比校放大四同相输入端加入≤一15mv的电压时，输出 端的电压称为输出低电平. 8、出吸入电流： (符号：工8 (2)、单位：mA ()定义：比较放大四处于低电平时，绘比较放大口的输入端注入电 流，当输出电压上升至逻辑“”电平时的注入电流称为输入电流. 9、响应时间： (1)符号：TR (2以、单位：n日 ...
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