GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf文档页数：18文档大小：1.16MB文档格式：pdf ICS31.200 L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 Semiconductor integrated circuit- Measuring methods for flash memory 20...

GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）.pdf文档页数：16文档大小：4.32MB文档格式：pdf ICS31.200 CCS L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH) Semiconductor integrated circuits- Flash memory(FLASH) 2023-09-07发...