SJ/T 11818.2-2022 半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范.pdf文档页数：16文档大小：2.22MB文档格式：pdf ICS31.260 CCS L53 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11818.2—2022 半导体紫外发射二极管第2部分：芯片规范 Semiconductor ultraviolet emitting diodes-Part 2:...

GB/T 30116-2013 半导体生产设施电磁兼容性要求.pdf文档页数：9文档大小：275.5KB文档格式：pdf ICS31.550 L95 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T30116—2013 半导体生产设施电磁兼容性要求 Requirements for semiconductor manufacturing facility electromagnetic patibility...

GB/T 34590.11-2022 道路车辆 功能安全 第11部分：半导体应用指南.pdf文档页数：154文档大小：70.25MB文档格式：pdf ICS43.040 CCS T35 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T34590.11-2022 道路车辆 功能安全 第11部分：半导体应用指南 Road vehicles-Functional safety-Part 11:G...

高清PDF《半导体物理性能手册（第三卷 上册 英文版）》.pdf文档页数：278文档大小：50.59MB文档格式：pdf Springer手册精选原版系列 半导体物理性能手册 第3卷（上册） HANDBOOK ON PHYSICAL PROPERTIES OF SEMICONDUCTORS Volume 3 II-VI Compound Semiconductors Edited by...

SJ/T 1477-2016 半导体分立器件 3CG120型硅PNP高频小功率晶体管详细规范.pdf文档页数：12文档大小：7.48MB文档格式：pdf ICS31.080.30 L42 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T1477—2016 代替SJ/T1477-1979 半导体分立器件 3CG120型硅PNP高频小功率晶体管 详细规范...

GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片.pdf文档页数：9文档大小：2.14MB文档格式：pdf ICS29.045 H82 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T26071—2018 代替GB/T260712010 太阳能电池用硅单晶片 Monocrystalline silicon wafers for solar cells 2018-09-17发布 2019-06-01实施 国...

SJ/T 11848-2022 半导体分立器件3DG2484型NPN硅高频小功率晶体管详细规范.pdf文档页数：14文档大小：2MB文档格式：pdf ICS31.080.30 CCS L42 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11848—2022 半导体分立器件3DG2484型NPN硅高频小 功率晶体管详细规范 Semiconductor discrete...

LB/T 002-2010 半导体照明试点示范工程（第二版）.pdf文档页数：6文档大小：179.51KB文档格式：pdf LB 国家半导体照明工程研发及产业联盟推荐性技术规范 LB/T002-2010 半导体照明试点示范工程 LED道路照明产品技术规范 (第二版) 2010-07-20发布 2010-08-01实施 国家半导体照明...

SJ/T 11850-2022 半导体分立器件3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范.pdf文档页数：16文档大小：2.3MB文档格式：pdf ICS31.080.30 CCS L 42 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11850—2022 半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型 NPN...

SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度.pdf文档页数：6文档大小：3.73MB文档格式：pdf ICS31.080 L53 备案号：52035-2015 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T2658.8—2015 代替SJ/T2658.8-1986 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度...

T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法.pdf文档页数：9文档大小：1.34MB文档格式：pdf ICS29.045 o Wide H80/84 WB 团 体 标 准 T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法 Test Method for FulI Width at Half Maximum of Dou...

GB/T 42676-2023 正式版 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法.pdf文档页数：9文档大小：1.48MB文档格式：pdf ICS77.040 CCS H 21 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试X射线衍射法 Test method for crystalline quality of semiconductive s...

SJ/T 11762-2020 半导体设备制造信息标识要求.pdf文档页数：17文档大小：8.83MB文档格式：pdf ICS31.550 L95 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11762—2020 半导体设备制造信息标识要求 Requirements for semiconductor equipment manufacturing information tagging 2020-...

JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法.pdf文档页数：11文档大小：2.55MB文档格式：pdf ICS71.040 C14 备案号：38976—2013 JC 中华人民共和国建材行业标准 JC/T2133-—2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素 含量的测定电...

T/QGCML 1407-2023 半导体光伏制造用双套管密封装置.pdf文档页数：8文档大小：3.03MB文档格式：pdf ICS21.14 CCS J22 团 体 标 准 T/QGCML14072023 半导体光伏制造用双套管密封装置 Double sleeve sealing device for semiconductor photovoltaic manufacturing 2023-09-16发...

GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法.pdf文档页数：6文档大小：1.91MB文档格式：pdf ICS31.080.01 L40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T4937.11-2018/IEC60749-11:2002 半导体器件机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化双液...

JB/T 13465-2018 无损检测 低功率微焦点X射线数字成像检测方法.pdf文档页数：15文档大小：2.27MB文档格式：pdfICS19.100 J04 备案号：64016—2018 JB 中华人民共和国机械行业标准 JB/T13465—2018 无损检测低功率微焦点X射线数字成像 检测方法 Non-destructive testing-Test...

SJ/T 1830-2016 半导体分立器件 3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范.pdf文档页数：13文档大小：7.39MB文档格式：pdf ICS31.080.30 L42 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T18302016 代替SJ/T1830-1981 半导体分立器件 3DK101型NPN硅小功率开关晶体管 详细规范 S...

QJ 10007/1-2008 宇航用半导体分立器件 3DK9型硅开关晶体管详细规范.pdf文档页数：15文档大小：4.3MB文档格式：pdf QJ 中华人民共和国航天行业标准 FL6131 QJ10007/1-2008 宇航用半导体分立器件 3DK9型硅开关晶体管详细规范 Detail specification for discrete semiconductor...

QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大口测试方法.pdf文档页数：7文档大小：1.27MB文档格式：pdf 中华人民共和国第七机械工业下 指导性技术文件 半导体集成比较放大口的测试方法 QJ/z-32-77 一九七七年六月 于北京 中华人民共和国第七机诚工业下 指导注技术文件 QJ/么-32-7 半导体...